学際科学フロンティア研究所活動報告書_令和元年度
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所 総会,20190611, ja, 1,東京.招待講演―41―4. CoCrPtグラニュラ記録媒体のマイクロ波アシスト磁化反転実験,佐藤勝成,菊池伸明,岡本 聡,5. 原子拡散接合−表面活性化接合の新潮流とその応用,島津武仁,一般社団法人電子実装工学研究6. 薄いa-Ge及びa-Si薄膜を用いた原子拡散接合法によるウエハ室温接合,村岡有菜,魚本 幸,島7. 原子拡散接合で作製したInGaAs / a-Ge / InGaAs接合部のバンド構造評価,山田友輝,魚本 幸,島津武仁,名田允洋,中島史人,松崎秀昭,第66回応用物理学会春季学術講演会,20190309, ja, 1,東京.2. Electron diffraction study of crystal structures of(Sr1-xBax)2Nb2O7, Bikas Aryal, Daisuke Morikawa, Kenji Tsuda, Shinya Tsukada, Yukikuni Akishige and Masami Terauchi, Physical Review Materials, 3 (20190400),pp. 044405-1-044405-6. of Microscopy Society of Thailand (MST36),20190328, en, 2, Bangkok, Thailand.招待講演2. Local structural study of ferroelectric domain boundaries using STEM-CBED with a fast pixelated STEM detector, Kenji Tsuda, Ryusuke Sagawa, Hiroki Hashiguchi and Yukihito Kondo, Microscopy and Microanalysis 2019, 20190807, en, 2, Portland, OR, US. 2. 大角度ロッキングCBED図形を用いた結晶構造因子精密化,森川大輔,津田健治,日本物理学会 2019年第74回年次大会,20190315, ja, 1,九州大学,福岡.3. ピクセル型高速STEM検出器を用いたSTEM-CBED法による強誘電ドメイン壁の局所構造解析,津田健治,佐川隆亮,橋口裕樹,近藤行人,第36回強誘電体応用会議(FMA36),20190531, ja, 1,北上 修,島津武仁,磁気記録・情報ストレージ研究会(MRIS),20190613, ja, 1,仙台.津武仁,第33回エレクトロニクス実装学会春季講演大会,20190311, ja, 1,東京.○受賞1. 20190500, 191st Committee on Innovative Interface Bonding Technology Japan Society for the Promotion of Science (JSPS),Best Poster Presentation Award, 2019 6th International Workshop on Low Temperature Bonding for 3D Integration (LTB-3D),Novel Sputter Film Deposition to Fabricate Thick Films with Extremely Smooth Surface Suitable for Room Temperature Bonding T. Saito, H. Makita, T. Moriwaki, Y. Suzuki, N. Kato, S. Wakayanagi, A. Miura, M. Uomoto and T. Shimatsu.○論文1. Investigation of the arrangement of oxide ion vacancies and their effect on the crystal structure of BaFe0.9In0.1O3-δ, Fumito Fujishiro, Chinatsu Sasaoka, Yusuke Shibata, Kenji Tsuda and Takuya Hashimoto, Journal of American Ceramics Society, 102(20190400),pp. 4427-4430. ○国際会議発表1. Local crystal structure analysis using STEM-CBED method, Kenji Tsuda, The 36th International Conference ○国内会議発表1. ピクセル型高速STEM検出器を用いたSTEM-CBED法による強誘電ドメイン壁の局所構造解析,津田健治,佐川隆亮,橋口裕樹,近藤行人,日本物理学会2019年第74回年次大会,20190314, ja, 1,九州大学,福岡.津田 健治 教授 [先端基礎科学]

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