第37回強誘電体会議（紙上開催），jpn．年9月9日，jpn．○国際会議発表1. Nanometer-scale local crystal structure analysis using convergent-beam electron diffraction, Kenji Tsuda, The 4th Symposium for The Core Research Cluster for Materials Science and the 3rd Symposium on International Joint Graduate Program in Materials Science，2020年11月18日，eng，招待講演○国内会議発表1. 収束電子回折による静電ポテンシャル分布解析への機械学習の応用，津田健治，応用物理学会・薄膜表面科学分科会 基礎講座『情報データ科学に基づく結晶材料・界面・プロセス工学の新展開−実験との連携運用術−』，2020年11月13日，jpn，招待講演．会 2020年新春電子顕微鏡解析技術フォーラム，2020年1月24日，jpn，大阪．招待講演．符徳 勝，伊藤 満，日本物理学会 2020年第75回年次大会（紙上開催）．日本物理学会 2020年第75回年次大会（紙上開催），jpn．物理学会2020年第75回年次大会（紙上開催）， eng．日本顕微鏡学会第76回学術講演会（紙上開催），jpn．学術講演会（紙上開催），jpn．寺内正己，日本顕微鏡学会第76回学術講演会（紙上開催），jpn．11 1 （2020年12月）， pp. -. 2. A Study on Occupation Sites in M6C Carbide in High Chromium Cast Iron Using Statistical Beam-Rocking TEM-EDS Analysis, S. Nusen, A. Wiengmoon, D. Morikawa, N. Azumi, T. Chairuangsri, K. Tsuda, M. Terauchi, 6th Forum of Center for Advanced Materials Research and International Collaboration （CAMRIC-FORUM6），2020年10月1日，eng，招待講演3. Materials Analysis by using Electron Microscopes operated in IMRAM, M. Terauchi, H. Jinnai, Y. K. Sato, D. Morikawa, K. Tsuda, Z. Akase, 2020 ONLINE JOINT SYMPOSIUM “Engineer a Better Tomorrow” TOHOKU UNIVERSITY and NATIONAL TAIPEI UNIVERSITY OF TECHNOLOGY，2020年11月30日，eng，招待講演2. 電子回折法の基礎から収束電子回折まで，津田健治，日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科3. STEM-CBED法によるPb（Mg1 / 3 Nb2 / 3）O3リラクサーの局所構造解析，津田健治，森川大輔，4. 大角度度ロッキングCBED図形を用いた結晶構造因子決定精度の検証Ⅱ，森川大輔，津田健治，5. Electron density analysis of Potassiun Tantalate （KTaO3） using convergent-beam electron diffraction，日本6. STEM-CBED法によるPMNリラクサーの局所構造解析，津田健治，森川大輔，符徳 勝，伊藤 満，7. STEM-CBED法によるPMNリラクサーの局所構造解析，津田健治，森川大輔，符徳 勝，伊藤 満，8. CaTiO3ドメイン境界での中心対称性の破れの観察，森川大輔，津田健治，日本顕微鏡学会第76回9. 収束電子回折法を用いた試料ダメージ層の定量評価Ⅱ，上石正樹，森川大輔，佐藤香織，津田健治，10. Improvement in the precision of refinement of the crystal structure factors using convergent-beam electron diffraction, B. Aryal, D. Morikawa, K. Tsuda, M. Terauchi，日本物理学会2020年秋季大会，2020年9月9日，eng．11. CaTiO3の界面誘起分極構造の観察，森川大輔，津田健治，日本物理学会 2020年秋季大会，2020―49―
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